Интегрированный толщиномер и поверхностная плотность CDM
Принципы измерения

Принципы измерения поверхностной плотности
Метод поглощения рентгеновских β-лучей
Принципы измерения толщины
Корреляция и лазерная триангуляция
Технические характеристики испытаний CDM
Сценарий 1: На поверхности электрода имеется пропуск/недостаток шириной 2 мм, и один край утолщён (синяя линия, как показано ниже). При размере пятна луча 40 мм влияние формы измеренных исходных данных (оранжевая линия, как показано ниже) выглядит явно меньшим.

Сценарий 2: данные профиля области динамического утончения шириной 0,1 мм

Возможности программного обеспечения

Технические параметры
Имя | Индексы |
Скорость сканирования | 0-18 м/мин |
Частота дискретизации | Поверхностная плотность: 200 кГц; толщина: 50 кГц |
Диапазон измерения поверхностной плотности | Поверхностная плотность: 10~1000 г/м²; толщина: 0~3000 мкм; |
Повторение измерений точность | Поверхностная плотность: 16-секундный интеграл: ±2σ: ≤±истинное значение * 0,2‰ или ±0,06 г/м²; ±3σ:≤±истинное значение * 0,25‰ или +0,08 г/м²; 4s интеграл: ±2σ: ≤±истинное значение * 0,4‰ или ±0,12 г/м²; ±3σ: ≤±истинное значение * 0,6‰ или ±0,18 г/м²;Толщина: Зона 10 мм:±3σ: ≤±0,3мкм; Зона 1 мм: ±3σ: ≤±0,5мкм; Зона 0,1 мм: ±3σ: ≤±0,8мкм; |
Корреляция R2 | Поверхностная плотность >99%; толщина >98%; |
Лазерное пятно | 25*1400мкм |
Класс радиационной защиты | Национальный стандарт безопасности GB 18871-2002 (исключение радиационного загрязнения) |
Срок службы радиоактивных источник | β-излучение: 10,7 лет (период полураспада Kr85); рентгеновское излучение: > 5 лет |
Время отклика измерения | Поверхностная плотность < 1 мс; толщина < 0,1 мс; |
Общая мощность | <3 кВт |
Напишите здесь свое сообщение и отправьте его нам